技術(shù)內(nèi)核:粉末衍射儀的測(cè)角儀幾何選擇與光學(xué)系統(tǒng)優(yōu)化
更新時(shí)間:2025-10-22 | 點(diǎn)擊率:32
粉末衍射儀的測(cè)角儀幾何選擇與光學(xué)系統(tǒng)優(yōu)化是提升衍射數(shù)據(jù)質(zhì)量的核心技術(shù),其設(shè)計(jì)需兼顧聚焦效率、分辨率與操作便捷性。
測(cè)角儀幾何選擇以布拉格-布倫塔諾(Bragg-Brentano,BB)幾何為主導(dǎo),其通過(guò)平面試樣與2:1角速度比的探測(cè)器旋轉(zhuǎn),實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)聚焦條件。該幾何的聚焦圓半徑隨衍射角變化,試樣中心點(diǎn)嚴(yán)格位于聚焦圓上,而邊緣區(qū)域存在散焦,但通過(guò)控制入射光發(fā)散度(如使用可變狹縫),可在衍射峰位置保持較高強(qiáng)度。對(duì)于復(fù)雜形狀樣品(如齒輪齒根),側(cè)傾法通過(guò)試樣繞水平軸轉(zhuǎn)動(dòng),使衍射幾何不受吸收影響,提升低角度衍射精度,尤其適用于殘余應(yīng)力測(cè)量。
光學(xué)系統(tǒng)優(yōu)化聚焦于光路模塊的升級(jí)。傳統(tǒng)BB幾何依賴發(fā)散狹縫(DS)與接收狹縫(RS)控制光束發(fā)散度,而現(xiàn)代儀器引入梭拉狹縫(SollerSlits),通過(guò)平行金屬薄片陣列限制垂直方向發(fā)散,將軸向發(fā)散角控制在2.26°以內(nèi),顯著減少散焦效應(yīng)。平行光路系統(tǒng)(如Göbel鏡)則通過(guò)多層膜反射將發(fā)散X射線轉(zhuǎn)化為平行光束,消除Kβ輻射與白光干擾,提升衍射峰分辨率。例如,布魯克D8Discover衍射儀的TRIO光路系統(tǒng)可自動(dòng)切換BB幾何、平行光幾何與高分辨單色光路,適應(yīng)粉末、薄膜及單晶外延膜的多樣化測(cè)試需求。
靶材與探測(cè)器協(xié)同優(yōu)化進(jìn)一步消除熒光干擾。針對(duì)含銅、鎳樣品,BBHD模塊可濾除連續(xù)白光與Kβ輻射;對(duì)于鐵、鈷、錳元素,1Der全波長(zhǎng)能量色散探測(cè)器通過(guò)340eV能量分辨率消除熒光背景。例如,鈷靶BBHD模塊結(jié)合1Der探測(cè)器,可在鋼鐵樣品中清晰識(shí)別滲碳體Fe3C的弱衍射峰,突破傳統(tǒng)光路的檢測(cè)極限。